測厚儀檢測的方法：無(wú)損檢測技術(shù)
無(wú)損檢測技術(shù)是一門(mén)理論上綜合性較強，又非常重視實(shí)踐環(huán)節的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設計、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面。
在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現對各類(lèi)材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣，便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱(chēng)之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶(hù)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達到標準的*手段。
目前，國內外已普遍按統一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測的方法和儀器的選擇隨著(zhù)材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無(wú)損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)瑩光法、β射線(xiàn)反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線(xiàn)和β射線(xiàn)反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。磁性測量法及渦流測量法，隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微處理機技術(shù)后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1％。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無(wú)損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。